Equotip550裏氏硬度計

Equotip550便攜式硬度檢測中功能*齊全的一體(ti) 化解決(jue) 方案。 裏氏硬度原理基於(yu) 動態（回彈）法，適用於(yu) 重型、大型或已安裝部件的現場檢測。

結合 Equotip Portable Rockwell 探頭，Equotip 550 可使用傳(chuan) 統的洛氏硬度靜態檢測法。 這將能夠在現場自動將 Leeb 關(guan) 聯至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值。

新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(ye) 專(zhuan) 家精心設計的界麵，提高了檢測效率和改善用戶體(ti) 驗。 改進的軟件可提供互動向導、自動驗證進程、個(ge) 性化選項和自定義(yi) 報告功能。 此外，該儀(yi) 器可兼容後續開發產(chan) 品。

全彩顯示屏使您能夠執行高質量的測量和對已測得數據進行分析。特殊設計的外殼適於(yu) 惡劣的現場使用環境。

迄今為(wei) 止，Proceq 的 Equotip 已經成為(wei) 全球廣泛認可的測量技術和行業(ye) 標準。 Equotip 裝置眾(zhong) 多行業(ye) 對無損硬度檢測的要求。

特色/應用/標準化/技術數據-米兰电竞俱乐部
Equotip Leeb

• 根據需要自動轉換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）

• 自動更正衝(chong) 擊方向確保高準確度 ± 4 HL（硬度為(wei)  800 HL 時，準確度為(wei)  0.5%）

• 測量範圍廣泛，可利用各種衝(chong) 擊裝置和支撐環來滿足絕大多數的硬度檢測要求。

• 每個(ge) 衝(chong) 擊裝置均可使用硬度範圍廣泛和準確的硬度測試塊，，用於(yu) 定期驗證。

Equotip 550 Touchscreen Unit

• 模塊化概念： 利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業(ye) 應用

• 組合法： 在現場自動將 Leeb 關(guan) 聯至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值

• 引導向導： 預定義(yi) 工作流以增強進程可靠性和提高測量精度

• 自動驗證： 根據 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗證

• 互動指南： 通過屏幕通知為(wei) 您的應用獲取相關(guan) 的設置

• 轉換曲線： 直接在儀(yi) 器上創建、編輯和驗證轉換曲線

• 自定義(yi) 報告： 模塊化報告處理器允許自定義(yi) 測量報告

• 自動選項： 將 NDT 自動操作集成至質量管理係統和自動檢測環境

• 外殼經過特殊設計，可用於(yu) 嚴(yan) 苛的現場環境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽蓋

• 高分辨率彩色顯示屏

• 電池使用時長 > 8h

• 8 GB 閃存

• 雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口： 探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網

• 通過直接兼容後續開發產(chan) 品，實現未來保障投資

• 裏氏回彈硬度檢測主要用於(yu) 金屬測量，還可用於(yu) 複合材料、橡膠和岩石檢測

• 適用於(yu) 材料挑選、驗收和生產(chan) 環節檢測

• 適用於(yu) 重型和大型部件安裝前後的現場檢測

• 方便用於(yu) 難進入或空間有限的金屬硬度檢測場地

Proceq 提供一些附件，例如一個(ge) 測量夾或幾個(ge) 支撐腳，適合在各種測試件結構上進行手動硬度測量

標準

• ASTM A956 / E140 / A370

• ISO EN 16859（即將發布）

• DIN 50156

• GB/T 17394

• JB/T 9378

準則

• ASME CRTD-91

• DGZfP Guideline MC 1

• VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1

• Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36

儀(yi) 器

• 顯示屏 7" 彩色顯示屏 800 x 480 像素

• 內(nei) 存 內(nei) 置 8 GB 閃存（可存儲(chu) 多達 1000000 個(ge) 測量值）

• 區域設置 公製和英製單位，支持多種語言和時區

• 電池 鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah

• 電池使用時長 > 8h（標準操作模式下）

• 電源輸入 12 V +/-25 % / 1.5 A

• 重量（顯示裝置） 大約 1525 g（含電池）

• 尺寸 250 x 162 x 62 mm

• *高海拔 2500 m 海拔高度

• 濕度 < 95 %RH，非冷凝

• 操作溫度 0°C 至 30°C（32 至 86°F） （正在充電且儀(yi) 器正在運行）

               0°C 至 40°C（32 至 104°F）  （正在充電且儀(yi) 器關(guan) 閉）

              -10°C 至 50°C（14 至 122°F）  （未充電）

• 環境 適合室內(nei) 與(yu) 室外使用

• IP 等級 IP 54

• 汙染等級 2

• 安裝類別 2

Equotip Leeb 衝(chong) 擊裝置

• 測量範圍 1-999 HL

• 測量精度 ± 4 HL（800 HL 時為(wei) 0.5 %）

• 分辨率 1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB；
              0.1 HRC；0.1 HS；1 MPa (N/mm2)

• 衝(chong) 擊方向 自動補償(chang) （DL 探頭除外）

• 衝(chong) 擊能量 

• D、DC、E、S 探頭為(wei)  11.5 Nmm

• DL 探頭為(wei)  11.1 Nmm

• C 探頭為(wei)  3.0 Nmm

• G 探頭為(wei)  90.0 Nmm

衝(chong) 擊體(ti) 質量 

• D、DC、E、S 探頭為(wei)  5.45 克（0.2 盎司）

• DL 探頭為(wei)  7.25 克（0.26 盎司）

• C 探頭為(wei)  3.10 克（0.11 盎司）

• G 探頭為(wei)  20.0 克（0.71 盎司）

球壓頭 

• C、D、DC 探頭為(wei) 碳化鎢，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）

• DL 探頭為(wei) 碳化鎢，直徑 2.78 毫米（0.11 英寸）

• G 探頭為(wei) 碳化鎢，直徑 5.0 毫米（0.2 英寸）

• S 探頭為(wei) 陶瓷，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）

• E 探頭為(wei) 多晶金剛石，直徑3.0 毫米（0.12 英寸）

操作溫度 –10˚C 至 50˚C（14 至 122°F）