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Equotip550Leeb硬度計

產(chan) 品時間:2024-08-27

訪問量:1069

廠商性質:代理商

生產(chan) 地址:

簡要描述:
Equotip550Leeb硬度計-米兰电竞俱乐部提供Equotip550Leeb維修、Equotip550Leeb培訓、Equotip550Leeb租賃、Equotip550Leeb銷售、Equotip550Leeb計量證書、Equotip550Leeb校準證書等等

Equotip550Leeb硬度計測試儀(yi) 是便攜式硬度檢測功能齊全的體(ti) 化解決(jue) 方案。 裏氏硬度原理基於(yu) 動態(回彈)法,適用於(yu) 重型、大型或已安裝部件的現場檢測。

結合 Equotip Portable Rockwell 探頭,Equotip 550 可使用傳(chuan) 統的洛氏硬度靜態檢測法。 這將能夠在現場自動將 Leeb 關(guan) 聯至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值。 

新代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(ye) 專(zhuan) 精心設計的界麵,提高了檢測效率和改良用戶體(ti) 驗。 改進的軟件可提供互動向導、自動驗證進程、個(ge) 性化選項和自定義(yi) 報告功能。 此外,該儀(yi) 器可兼容後續開發產(chan) 品。

全彩顯示屏使您能夠執行高質量的測量和對已測得數據進行分析。特殊設計的外殼適於(yu) 惡劣的現場使用環境。

迄今為(wei) 止,Proceq 的 Equotip 已經成為(wei) 全球廣泛認可的測量技術和行業(ye) 標準。 Equotip 裝置眾(zhong) 多行業(ye) 對無損硬度檢測的要求。

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Equotip Leeb

  • 根據需要自動轉換至所有通用的硬度單位(HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm)

  • 自動更正衝(chong) 擊方向確保高準確度 ± 4 HL(硬度為(wei) 800 HL 時,準確度為(wei) 0.5%)

  • 測量範圍廣泛,可利用各種衝(chong) 擊裝置和支撐環來滿足絕大多數的硬度檢測要求。

  • 每個(ge) 衝(chong) 擊裝置均可使用硬度範圍廣泛和準確的硬度測試塊,,用於(yu) 定期驗證。

Equotip 550 Touchscreen Unit

  • 模塊化概念: 利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業(ye) 應用

  • 組合法: 在現場自動將 Leeb 關(guan) 聯至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值

  • 引導向導: 預定義(yi) 工作流以增強進程可靠性和提高測量準確度

  • 自動驗證: 根據 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗證

  • 互動指南: 通過屏幕通知為(wei) 您的應用獲取相關(guan) 的設置

  • 轉換曲線: 直接在儀(yi) 器上創建、編輯和驗證轉換曲線

  • 自定義(yi) 報告: 模塊化報告處理器允許自定義(yi) 測量報告

  • 自動選項: 將 NDT 自動操作集成至質量管理係統和自動檢測環境

  • 外殼經過特殊設計,可用於(yu) 嚴(yan) 苛的現場環境 (IP 54),包括背帶、集成支架和遮陽蓋

  • 高分辨率彩色顯示屏

  • 電池使用時長 > 8h

  • 8 GB 閃存

  • 雙核處理器,支持各種通信接口和外圍接口: 探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網

  • 通過直接兼容後續開發產(chan) 品,實現未來保護投資

  • 裏氏回彈硬度檢測主要用於(yu) 金屬測量,還可用於(yu) 複合材料、橡膠和岩石檢測

  • 合適用於(yu) 材料挑選、驗收和生產(chan) 環節檢測

  • 合適用於(yu) 重型和大型部件安裝前後的現場檢測

  • 方便用於(yu) 難進入或空間有限的金屬硬度檢測場地

Proceq 提供些附件,例如個(ge) 測量夾或幾個(ge) 支撐腳,適合在各種測試件結構上進行手動硬度測量

Equotip 550 Leeb硬度計測試儀(yi) 標準

  • ASTM A956 / E140 / A370

  • ISO EN 16859(即將發布)

  • DIN 50156

  • GB/T 17394

  • JB/T 9378


Equotip 550 Leeb硬度計測試儀(yi) 準則

  • ASME CRTD-91

  • DGZfP Guideline MC 1

  • VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1

  • Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36

Equotip 550 Leeb硬度計測試儀(yi) :

顯示屏7" 彩色顯示屏 800 x 480 像素
內存內置 8 GB 閃存
(可存儲多達 1000000 個測量值)
區域設置公製和英製單位,支持多種語言和時區
電池鋰聚合物,3.6 V、14.0 Ah
電池使用時長> 8h(標準操作模式下)
電源輸入

12 V +/-25 % / 1.5 A

重量(顯示裝置)大約 1525 g(含電池)
尺寸250 x 162 x 62 mm
高海拔2500 m 海拔高度
濕度< 95 %RH,非冷凝
操作溫度0°C 至 30°C(32 至 86°F)
(正在充電且儀器正在運行)
0°C 至 40°C(32 至 104°F)
(正在充電且儀器關閉)
-10°C 至 50°C(14 至 122°F)
(未充電)
環境適合室內與室外使用
IP 等IP 54
汙染等2
安裝類別2


Equotip Leeb 衝(chong) 擊裝置:

測量範圍1-999 HL
測量精度± 4 HL(800 HL 時為 0.5 %)
分辨率1 HL;1 HV;1 HB;0.1 HRA;0.1 HRB;
0.1 HRC;0.1 HS;1 MPa (N/mm2)
衝擊方向自動補償(DL 探頭除外)
衝擊能量
  • D、DC、E、S 探頭為(wei) 11.5 Nmm

  • DL 探頭為(wei) 11.1 Nmm

  • C 探頭為(wei) 3.0 Nmm

  • G 探頭為(wei) 90.0 Nmm

衝擊體質量
  • D、DC、E、S 探頭為(wei) 5.45 克(0.2 盎司)

  • DL 探頭為(wei) 7.25 克(0.26 盎司)

  • C 探頭為(wei) 3.10 克(0.11 盎司)

  • G 探頭為(wei) 20.0 克(0.71 盎司)

球壓頭
  • C、D、DC 探頭為(wei) 碳化鎢,直徑 3.0 毫米(0.12 英寸) 

  • DL 探頭為(wei) 碳化鎢,直徑 2.78 毫米
    (0.11 英寸) 

  • G 探頭為(wei) 碳化鎢,直徑 5.0 毫米(0.2 英寸)

  • S 探頭為(wei) 陶瓷,直徑 3.0 毫米(0.12 英寸)

  • E 探頭為(wei) 多晶金剛石,直徑
     3.0 毫米(0.12 英寸)

操作溫度

–10˚C 至 50˚C(14 至 122°F

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