CTS-2020探傷(shang) 儀(yi) 製作DAC曲線
操作：
(1)設定測試點選擇=“峰值"，DAC曲線=“on"，開始製作曲線；
(2)用已測探頭掃射RB-3試塊上深度為(wei) 10mm的Φ3孔，找到回波最高點，使閘門套住該回波，調節回波高度為(wei) 80%，選中DAC回波欄，按 打印 鍵，使DAC回波=“1"，此時已記錄了第一個(ge) 回波參考點，並畫出第一段曲線。
(3)重複（2）項操作，依此記錄下20mm、30mm、40mm等由淺到深的孔的回波。當較深距離的參考回波幅度小於(yu) 20%屏幕顯示幅度時，可增加儀(yi) 器靈敏度（增益值），以提高回波幅度，方便記錄該回波參考點。
(4)在完成DAC回波操作，記錄下所需回波參考點後，一組DAC曲線則製作完成。
(5)按GB/T11345-1989標準B級，測長線（評定線）、定量線、判廢線的靈敏度分別為(wei) ：Φ3-16dB、Φ3-10dB、Φ3-4dB。將菜單項評定線、定量線、判廢線 分別設定為(wei) ：“DAC-16dB"、“DAC-10dB"、“DAC-4dB"，曲線選擇設定為(wei) “定量線"，另外工件表麵補償(chang) 一般要4dB，所以增益校正應設置為(wei) “+4dB"。
(6)保存當前儀(yi) 器狀態設定及DAC曲線在空白數據集內(nei) ，記錄好該曲線的存儲(chu) 號。
5.2.4應用閘門定量和定位
現場檢測時將原先作好的DAC曲線從(cong) 存儲(chu) 號中調出，將顯示選擇設置為(wei) “HadB"，當DAC曲線測量範圍內(nei) 有可疑回波時，用a閘門套住該回波，屏幕右上方顯示的數字如果為(wei) “+5.5"，該數字代表閘門內(nei) 回波峰值與(yu) 當前選中曲線（“定量線"）的dB差，若高於(yu) 為(wei) “+" ，低於(yu) 為(wei) “-"。所以該回波當量應當為(wei) ：Φ3-10dB+5.5dB=Φ3-4.5dB，屬二區缺陷。缺陷定量時無需調節增益按鈕和增益校正。
缺陷的相關(guan) 數據顯示在波形的下方：波高百分比、垂直距離、水平距離和聲程等，通過移動閘門起位來給不同缺陷進行定量和定位。
第6章數據集的操作與(yu) 管理
在主菜單存儲(chu) 中，可找到所有用於(yu) 存入、調出和刪除數據集的功能。數據集不僅(jin) 包括A掃描波形，還包括所有的儀(yi) 器參量設置值、DAC曲線和備注信息。在任何時候都可以調出存儲(chu) 的數據集，調出時儀(yi) 器的參量設置和存入時*相同。這一功能使得在進行重複性檢測工作時儀(yi) 器的校正能快速進行，也使得儀(yi) 器能夠在不同的探傷(shang) 工作狀態間快速切換。
6.1記錄的存入
該功能可將當前儀(yi) 器的參量設定和波形存入到數據集中。數據集編碼前的號表示該數據集已被占用，不能改寫(xie) ；應選擇其它空數據集或清除被占用的數據集。測試信息表的有效輸入內(nei) 容，也自動保存到存儲(chu) 的數據集中。
操作：
(1)按存儲(chu) 號對應的選擇鍵 ◄ ，按向上和向下調節鍵 ▲ ▼，選擇存入當前數據集的存儲(chu) 號碼（在1至500間循環選擇）。
(2)按下存入對應的選擇鍵，通過向上調節鍵 ▲ 將其設為(wei) “on"。當存儲(chu) 過程完成後，存儲(chu) 號顯示“"號，同時自動重新設為(wei) “off"。
6.2記錄的調出
調出相應存儲(chu) 號的存儲(chu) 數據。調出數據集後，儀(yi) 器參量被設置為(wei) 與(yu) 存入時相同的設定狀態，並顯示存儲(chu) 的A型掃描凍結波形。
操作：
(1)在存儲(chu) 號裏，選擇想要調出的數據集的編碼。
(2)將調出子菜單項設為(wei) “on"，調出完畢時，自動重新設回“off"。
6.3記錄的刪除
被占用的數據集在其存儲(chu) 號前用號標明，說明這些存儲(chu) 號已保存有數據，這些數據集如不再需要，可以清除。
操作：
(1)在存儲(chu) 號中選擇想要清除的數據集的編碼。
(2)按下子菜單刪除對應的 ◄ 鍵，提示行就會(hui) 提示：“是否刪除此數據集？"
(3)按下向上調節鍵 ▲ ，將其設為(wei) “on"。該數據集即已清除，數據集編碼前的號消失。刪除後，刪除自動重新設為(wei) “off"。
(4)“是否刪除此數據集？"的提示出現後，若想放棄刪除操作時，可按下除了子菜單刪除對應的 ◄ 鍵外的其它按鍵，退出該操作。
6.4測試信息的編輯和存儲(chu)
CTS-2020提供了全麵的數據集測試信息管理功能。每一數據集都能儲(chu) 存許多附加信息，例如檢測對象資料、缺陷數據或評定注釋等。存儲(chu) 附加信息有助於(yu) 對數據集進行簡便管理。本儀(yi) 器有10個(ge) 欄目的測試信息可供使用。
6.4.1測試信息欄
在下列區域中，最多可輸入11個(ge) 包括字母數字等符號在內(nei) 的字符：
數據名 數據集名稱
焊縫類型 焊縫描述
操作者 檢測人員的姓名或代號
表麵狀況 表麵質量狀況
備注 注釋
還可在下列欄目中輸入數值：
試件厚度 試件描述
測試長度 被探頭掃查過的試件長度範圍
指示長度 缺陷指示長度
Ｘ位置 X位置坐標
Ｙ位置 Y位置坐標
操作：
(1)將存儲(chu) 菜單中的測試信息設為(wei) “on"，進入測試信息編輯界麵，如圖6.1所示。
圖6.1
(2)測試信息編輯界麵共有5行3列，頂部（第一行）和最右邊是光標指示，用於(yu) 定位當前編輯位置，圖6.1所示，當前編輯位置在2行1列。
(3)按下2~5行對應的選擇鍵 ◄ 可以選擇對應的行，重複按同一個(ge) 鍵 ◄ 將循環地切換列位置，如圖6.2所示，如果再次按下第2行對應的選擇鍵 ◄ ，頂部光標指示將切換到第2列，即當前編輯位置是2行2列的“試件厚度"。
圖6.2
(4)按麵板增益調節鍵 ▲ ▼ ，可以將編輯光標左移一位或右移一位，如圖6.3所示，按增益調節鍵 ▲ ，光標右移一位，“試件厚度"欄中0被加亮，這時如需改變“0"值則按增益調節鍵 ▲ 或 ▼ 進行調節。
圖6.3
(5)按向上或向下調節鍵 ▲ ▼，將改變加亮的數字5，向上調節鍵 ▲ 增加數值，如圖6.4；向下調節鍵 ▼ 減小數值，如圖6.5。
圖6.4
圖6.5
注：
(1)在調用一新數據集之前，請記住，當前數據集中的所有修改將會(hui) 丟(diu) 失！如果需要保存修改，將信息存儲(chu) 欄設為(wei) “on"。
(2)存儲(chu) 號欄不可編輯，這裏顯示的是當前數據集的編碼。
6.4.2存儲(chu) 測試信息
選擇5行3列的信息存儲(chu) 欄，將其設為(wei) “on"。
注：
如對原有的測試信息進行編輯，當數據儲(chu) 存的時候，所有原來的測試信息都會(hui) 更改。如果原來數據集是空的，所有的儀(yi) 器設置和當前A掃描圖形都和編輯的欄目數據同時儲(chu) 存。數據存儲(chu) 結束後，信息存儲(chu) 自動重新設置為(wei) “off"。
6.4.3退出測試信息界麵
按 縮放 鍵，中止測試信息數據編輯，返回到A掃描顯示。
注：
信息存儲(chu) 沒有置為(wei) "on"時，數據將不會(hui) 被保存。
