儀(yi) 景通Evident/OmniScan X4相控陣探傷(shang) 儀(yi) |米兰电竞俱乐部提供良好的解決(jue) 方案
有意義(yi) 的圖像
更快更果斷地做決(jue) 定
除了相控陣超聲波測試技術，所有OmniScan X4型號都標配相位
相幹成像（PCI）、全聚焦法（TFM）和平麵波成像（PWI），以及它們(men) 的易用性
使新用戶更容易訪問它們(men) 。使用多種工具提供有關(guan) 適應症的更多信息
增加你對評估的信心。
查看Phase的更多詳細信息
相幹成像
識別和解釋具有挑戰性的缺陷，如鉤子
利用PCI的容量進行果斷有效的破解
清晰地表示難以檢測的缺陷。使
對諸如應力等細微缺陷的準確評估
腐蝕開裂（SCC），因為(wei) 基於(yu) 相的PCI是遠
較不容易受到相鄰缺陷的衰減
amplitude-based技術。因為(wei) 衍射
SCC是由PCI加重，你可以更容易
描述每個(ge) 裂縫的深度並利用該軟件
蓋茨能夠迅速找出最深層的缺陷。
高達3倍更快的TFM
利用酥脆提高你的工作效率
TFM提供的定義(yi) 甚至焦點。根據
在配置中，OmniScan X4係列的TFM已啟動
比它的前身（omnican）快三倍
X3 64模型)時使用稀疏射擊模式。
雙麵焊縫檢驗
雙TFM和PCI
給你的焊接證明了一個(ge) 效率提高使用雙胞胎
TFM和PCI。利用PCI和的各個(ge) 屬性
TFM要調查焊縫的體(ti) 積
雙方同時進行。使用安裝的兩(liang) 個(ge) 探頭
在我們(men) 的AxSEAM™長縫掃描儀(yi) 上，
您可以在一次傳(chuan) 遞中生成清晰的TFM和PCI結果。
