探傷(shang) 儀(yi) OmniScan X3技術參數及應用

OmniScanX3探傷(shang) 儀(yi)

腐蝕檢測，簡便易行

利用相控陣技術進行腐蝕檢測具有很多優(you) 勢，其中包括較大的覆蓋範圍和出色的分辨率。但是，熟練掌握相控陣技術具有一定的挑戰性。OmniScan X3探傷(shang) 儀(yi) 通過精心設計的軟件和簡單流暢的菜單提供高級功能，從(cong) 而可使您簡單輕鬆地獲得準確的數據。

儀(yi) 器所提供的高級工具，如：全聚焦方式（TFM）圖像，可用於(yu) 檢測腐蝕或其他一些較難探測到的損壞現象，如：高溫氫致缺陷（HTHA）和氫致裂紋（HIC）

隻需非常簡單的設置，就可以使用一個(ge) 最多包含64個(ge) 晶片的孔徑生成具有優(you) 質分辨率的 全聚焦方式（TFM）圖像

任何水平的操作人員在使用儀(yi) 器時都會(hui) 感到 得心應手

得益於(yu) 簡化的菜單結構和設置向導，您可以更輕鬆地設置複雜的解決(jue) 方案，如：與(yu) HydroFORM掃查器配套進行的檢測

腐蝕檢測，簡便易行

較大的文件容量可以實現更快的數據通量，並可進行不間斷的掃查

使用一個(ge) 25 GB的大容量文件，可以掃查一個(ge) 最大13米2的區域，還可以對大型管道進行完整的周向掃查。

檢測人員正在使用相控陣探傷(shang) 儀(yi) 進行腐蝕檢測

用於(yu) 條件艱苦的環境

10.6英寸WXGA顯示屏上的 圖像清晰可見

觸摸顯示屏反應靈敏，即使在帶著手套、粘有耦合劑，或者在雨中操作時，其靈敏度也不會(hui) 降低

符合IP65評級標準，防塵防水

可在-10 °C到45 °C的溫度範圍內(nei) 正常操作，而不會(hui) 降低其符合IP65評級的水平