38DL PLUS測厚儀(yi) 的一個(ge) 主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體(ti) 、壓力容器、外殼及其他結構的剩餘(yu) 厚度。這些應用中經常使用的是雙晶探頭。
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使用單個(ge) 底麵回波測量金屬的實際厚度。使用這個(ge) 技術可以分別顯示金屬和塗層的厚度。這兩(liang) 個(ge) 厚度都根據它們(men) 各自正確的材料聲速值得到了調整。因此,要測量金屬的厚度,不再需要減去表麵的漆層和塗層。穿透塗層測量技術使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。 |
材料中的溫度差異會(hui) 影響材料聲速和厚度測量的精確性。用戶使用溫度補償(chang) 功能可以手動輸入校準試塊的溫度值和測量時的實際(高)溫度值。38DL PLUS自動顯示經過溫度校正的厚度值。 |
38DL PLUS使用高級算法測量鍋爐管件內(nei) 壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀(yi) 同時顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預測管件的壽命。建議在此項應用中使用M2017或M2091探頭。 |
用戶使用這項正等待通過的新功能可以為(wei) 幾乎所有雙晶探頭創建一條自定義(yi) V聲程補償(chang) 曲線。在為(wei) 大多數雙晶探頭保存和調用自定義(yi) 設置時,這條曲線也被同時保存和調用。 用戶隻需校準並輸入已知厚度值(最小3個(ge) 校準點;最大10個(ge) 校準點),儀(yi) 器就會(hui) 創建V聲程補償(chang) 曲線。 |
所有標準的雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個(ge) 功能可以為(wei) 每種不同類型的探頭自動調用默認V聲程校正。
用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、複合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們(men) 提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進行分辨率為(wei) 0.001毫米的十分精確的厚度測量。
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用戶使用這個(ge) 選項可在使用低頻單晶探頭(低到0.5 MHz)的情況下,測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及複合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。
這個(ge) 軟件選項計算並同時顯示多達4個(ge) 不同層的厚度測量值。 這個(ge) 功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應用包括對塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預成型坯及軟性隱型眼睛進行的厚度測量。 |
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